PID電源測(cè)試系統(tǒng)(Potential Induced Degradation Test System)是專(zhuān)用于評(píng)估光伏組件在電勢(shì)誘導(dǎo)衰減(PID)效應(yīng)下的性能退化情況的測(cè)試設(shè)備。該系統(tǒng)通過(guò)模擬高電壓、高溫高濕環(huán)境,加速PID效應(yīng)發(fā)生,并檢測(cè)組件功率衰減、絕緣性能等關(guān)鍵參數(shù),為光伏組件可靠性評(píng)估提供科學(xué)依據(jù)。